专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种制备中空透射型法布里-珀罗腔滤波器的方法-CN201010108642.5无效
  • 甄红宇;李国龙;周可余;刘旭 - 浙江大学
  • 2010-02-08 - 2010-08-18 - G02F1/03
  • 本发明公开了一种制备中空透射型法布里-珀罗腔滤波器的方法,包括如下步骤:在下基板上依次形成介质高反膜和中空的薄膜电极介质高反膜薄膜电极中至少一的上表面经过表面能改性,使薄膜电极的表面能高于介质高反膜的表面能;再将压电聚合物选择性地沉积在薄膜电极上,形成聚合物薄膜;在聚合物薄膜上蒸镀形成上薄膜电极;在上薄膜电极上依次覆盖上介质高反膜和上基板。本发明利用压电聚合物这种特性,可制备中空透射型法布里-珀罗腔(F-P)滤波器,制备聚合物薄膜的同时,就形成所需要的内腔图形,方法工艺简单易行,不损伤聚合物薄膜,能较好地保证聚合物薄膜的压电特性。
  • 一种制备中空透射型法布里珀罗腔滤波器方法
  • [实用新型]一种日全食观察镜-CN200920124840.3无效
  • 吴旭贞 - 吴旭贞
  • 2009-07-20 - 2010-05-12 - G02B27/02
  • 本实用新型公开了一种日全食观察镜,属于日全食观察镜技术领域,它由上玻璃片、上密封圈、螺杆、密封圈、玻璃片、墨水介质密封圈、螺帽、手柄组成,其特征在于上玻璃片连接上密封圈和墨水介质密封圈及密封圈与玻璃片,上玻璃片与上密封圈和墨水介质密封圈及密封圈的四周边各连接螺杆,墨水介质密封圈上留有手柄,安装时在墨水介质密封圈内灌入蓝色墨水,用螺帽把连接螺杆旋紧固定,手持手柄,把上玻璃片或玻璃片的平面部位遮住眼部
  • 一种日全食观察
  • [发明专利]一种电阻型存储单元-CN201510503715.3有效
  • 刘汇慧;李同伟;琚伟伟;张利平;苏向英 - 河南科技大学
  • 2015-08-17 - 2018-04-10 - H01L45/00
  • 一种电阻型存储单元,涉及非易失性存储器件技术领域,包括基板、电极、功能、上电极和绝缘介质电极覆盖在基板上,绝缘介质覆盖在下电极上,绝缘介质上设有槽底通至电极的沟槽,沟槽内自上而下依次设有上电极和功能,功能电极直接接触,上电极与绝缘介质表面平齐设置。所述功能为电阻变化型存储,该功能为上、的叠结构,其由非晶态的SnOx和氮氧化物MnOxNy层叠构成,其中,非晶态的SnOx中x的取值范围为0<x<2,氮氧化物MnOxNy中的
  • 一种电阻存储单元
  • [发明专利]凸点金属和连接垫层的形成方法-CN200810114066.8有效
  • 王新鹏;韩秋华;沈满华;孙武 - 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
  • 2008-05-30 - 2009-12-02 - G03F7/42
  • 一种凸点金属的形成方法,包括如下步骤:提供半导体衬底,所述半导体衬底上形成有金属、绝缘介质及位于绝缘介质中的凹槽,金属层位于绝缘介质之上以及凹槽内;在金属之上形成硬掩膜;在硬掩膜之上形成光刻胶,定义出凸点金属形状;以光刻胶为掩膜刻蚀硬掩膜;去除光刻胶;以硬掩膜为掩膜刻蚀金属;去除硬掩膜。与现有技术相比,本发明重新安排了灰化和刻蚀凸点金属的工艺步序,使绝缘介质在去除光刻胶的过程中有了金属的保护,解决了绝缘介质中聚酰亚胺大量损失的问题,有助于提高产品的良率。
  • 凸点下金属连接垫层形成方法
  • [发明专利]一种电极表面介质及其制作工艺-CN202010388667.9在审
  • 何新玉;赵浩;司奇峰 - 芜湖通潮精密机械股份有限公司
  • 2020-05-09 - 2020-08-21 - H01J37/32
  • 本发明公开了一种电极表面介质,所述电极包括底层绝缘、钨导电、表面介质和电极柱,所述表面介质为密集分布凸点状结构,凸点为1~3μm方形或圆形,凸点高度10~30μm,凸点间距1~3μm,钨导电设置在底层绝缘与表面介质之间,电极柱穿过底层绝缘与钨导电连接。本发明表面介质为密集分布凸点状结构,凸点为1~3μm方形原形状或圆形,凸点高度10~30μm,凸点间距1~3μm,凸点大小小于或接近面板玻璃单个像素点尺寸。这种结构玻璃面板与电极表面接触面积适中,同时又增加了电极与玻璃面板之间的间隙,有效降低碎片及冷却不良等问题,同时类平板型轮廓解决了普通凸点型易出现Mura的问题,可以有效提高产品质量和良率。
  • 一种电极表面介质及其制作工艺
  • [发明专利]一种半导体结构的制备方法及半导体结构-CN202210975666.3在审
  • 朱留洋 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2022-08-15 - 2022-11-08 - H01L21/8242
  • 本公开实施例提供了一种半导体结构的制备方法及半导体结构,其中,方法包括:提供衬底,衬底上形成有支撑结构;在支撑结构内形成多个电容孔;在电容孔内形成电极,电极覆盖电容孔的侧壁和底部;形成第一介质,第一介质覆盖下电极的表面;形成第一上电极,第一上电极覆盖第一介质的表面;去除位于电容孔之间的部分支撑结构,以形成容纳腔,容纳腔至少暴露出部分电极,保留下来的支撑结构位于电极的部分侧壁上;形成第二介质,第二介质覆盖容纳腔的侧壁和底部;形成第二上电极,第二上电极覆盖第二介质和第一上电极的上表面。
  • 一种半导体结构制备方法

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