[发明专利]有动态自放大存储单元的DRAM单元装置及其制造方法无效

专利信息
申请号: 98115135.3 申请日: 1998-06-26
公开(公告)号: CN1143391C 公开(公告)日: 2004-03-24
发明(设计)人: W·克劳斯赫纳德;F·霍夫曼 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/82
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 马铁良;王忠忠
地址: 联邦德*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 在自放大的动态存储单元装置中,每个存储单元具有一个选择晶体管,一个存储晶体管和一个二极管结构。选择晶体管和存储晶体管是垂直MOS晶体管,并且是互相叠起布置的。它们经一公共源/漏区(7')互相连接。存储晶体管的一个源/漏区(2)与一个电源线连接,选择晶体管的一个源/漏区(5')与一个位线连接,选择晶体管的栅极(19)与一个字线连接。二极管结构(11,12,14)连接在存储晶体管的公共源/漏区(7')和栅电极(11)之间。
搜索关键词: 动态 放大 存储 单元 dram 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1.DRAM单元装置,-其中,在一个衬底(1)中集成地配置大量动态自放大存储单元,-其中,每个存储单元具有一个选择晶体管,一个存储晶体管和一个二极管结构,-其中,选择晶体管和存储晶体管是各自构成相对于衬底的一个主面的垂直MOS晶体管,-其中,选择晶体管和存储晶体管是互相叠起布置的,并且经一个公共的源/漏区域(7’)互相连接,-其中,存储晶体管的一个源/漏区(2)是与一电源线连接的,选择晶体管的一个源/漏区(5’)是与一个位线连接的,并且选择晶体管的栅电极(19)是与一字线(17’,19)连接的,并且该二极管结构(11,12,14)是连接在公共源/端区(7’)和存储晶体管的栅电极(11)之间的,-其中,该衬底(1)具有各柱体(9),它们是垂直于衬底主面布置的,-其中,选择晶体管和存储晶体管是各自布置的各柱体(9)之一的各侧壁上的,在此选择晶体管和存储晶体管的各栅电极(11,19)和该二极管结构(12,14)环状地包围这些柱体(9)。
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