[其他]测量铝阳极氧化膜封闭质量的导纳仪无效
| 申请号: | 86100248 | 申请日: | 1986-01-10 |
| 公开(公告)号: | CN86100248A | 公开(公告)日: | 1986-09-03 |
| 发明(设计)人: | 张凤林;王兴库 | 申请(专利权)人: | 机械工业部沈阳仪器仪表工艺研究所 |
| 主分类号: | G01N27/26 | 分类号: | G01N27/26 |
| 代理公司: | 辽宁省科学技术情报研究所专利室 | 代理人: | 张扬生 |
| 地址: | 辽宁省沈阳*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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| 摘要: | 测量铝阳极氧化膜封闭质量的导纳仪。它由电解池、探头、振荡器、高电抗元件、放大器、带通滤波器、线性检波器、低通滤波器、数字显示器、除法器、测温电路、自动换算电路构成。本发明解决了模拟信号的线性化问题,实现了数字显示,提高了测量精度和分辨率,扩大了量程,方便了数据读取,实现了自动测温和自动换算,简化了试验步骤,节省了工时。 | ||
| 搜索关键词: | 测量 阳极 氧化 封闭 质量 导纳 | ||
【主权项】:
1、本发明是一种用于检查铝阳极氧化膜封闭质量的导纳测量仪(图3)。它由电解池(2)。探头(1)、(3)、振荡器(5)高电抗元件(4)。放大器(6)。带通滤波器(7)。低通滤波器(9)组成。其特征是所述的导纳仪还包括一个除法器(17)、一个测温电路(11)。一个自动换算电路。一个数字显示器(10)和一个线性检波器(8)。
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