[其他]测量铝阳极氧化膜封闭质量的导纳仪

权利要求书

1、本发明是一种用于检查铝阳极氧化膜封闭质量的导纳测量仪(图3)。它由电解池(2)。探头(1)、(3)、振荡器(5)高电抗元件(4)。放大器(6)。带通滤波器(7)。低通滤波器(9)组成。其特征是所述的导纳仪还包括一个除法器(17)、一个测温电路(11)。一个自动换算电路。一个数字显示器(10)和一个线性检波器(8)。

2、按照权利要求1所述的线性检波器（图4），其特征是它有一个放大器（5）和两个二极管（3）、（4），其中二极管（3）接在放大器的负反馈电路中，二极管（4）接在放大器的输出电路中。

3、按照权利要求1所述的除法器（图5），其特征是它有一个放大器（2）和一个接在放大器（2）的反馈回路中的模拟乘法器（1）。

4、按照权利要求1所述的测温电路（图6）其特征是它有一个温度传感器（3）和一个放大器（4），其输出电压信号Vo同环境温度成正比。

5、按照权利要求1所述的自动换算电路（图3），其特征是它有一个具有存貯功能的计算器芯片（16），一个模/数转换器（14），一个寻址电路（12）一个时序控制电路（18）一个门电路（15）一个键盘（13）和一个数字显示器（10）。

6、按照权利要求5所述的模/数转换器，其特征是它由单片A/D转换器，寄存器，译码器和门电路构成。

7、按照权利要求5所述的时序控制电路，其特征是它由时基发生器，循环计数器、触发器和门电路构成。

8、按照权利要求5所述的寻址电路，其特征是它由计数器，触发器和门电路构成。

9、按照权利要求5所述的键盘，其特征是它由数据输入键和操作键构成。