[实用新型]用于提高芯片测试效率的机械臂有效
| 申请号： | 202320051326.1 | 申请日： | 2023-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN218947732U | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | 范彩凤 | 申请（专利权）人： | 北臻（浙江）电子科技有限公司 |
| 主分类号： | B25J18/00 | 分类号： | B25J18/00;B25J19/00 |
| 代理公司： | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人： | 祝霞靖 |
| 地址： | 314100 浙江省嘉兴*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于提高芯片测试效率的机械臂，包括基座和抓取座，基座上设有多个安装工位，安装工位设有卡接凸起，抓取座两侧设有凸缘，凸缘设有贯穿凸缘的卡孔，抓取座底部设有向下延伸的延伸部，延伸部内设有气道，气道向上延伸并在抓取座背向延伸部的一端形成连接端，连接端设有吸盘，基座位于朝向延伸部的一侧设有安装槽，基座位于背向安装槽的一侧设有气孔，气孔与安装槽连通。本实用新型具有以下优点和效果：通过在安装工位中对称设置卡接凸起，以及在抓取座两侧设置带有卡孔的凸缘，使得将卡接凸起插入卡孔，便能实现抓取座的快速连接，从而使得吸盘的拆装更加方便，通过节省吸盘的拆装时间，能够提高整体对芯片的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 提高 芯片 测试 效率 机械 | ||
【主权项】：
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