[实用新型]用于提高芯片测试效率的机械臂

权利要求书

1.一种用于提高芯片测试效率的机械臂，其特征在于，包括与机械臂连接的基座和与基座连接的抓取座，所述基座上设有多个且彼此间隔设置的安装工位，所述安装工位用于安装抓取座，所述安装工位对称设有卡接凸起，所述抓取座两侧设有凸出的凸缘，所述凸缘设有贯穿凸缘的卡孔，所述卡接凸起可卡入卡孔，并构成两者之间的卡接配合，所述抓取座底部设有向下延伸的延伸部，所述延伸部内设有气道，所述气道向上延伸并在抓取座背向延伸部的一端形成连接端，所述连接端设有吸盘，所述基座位于朝向延伸部的一侧设有安装槽，所述延伸部可卡入安装槽，并构成两者之间的卡接配合，所述基座位于背向安装槽的一侧设有气孔，所述气孔与安装槽连通。

2.根据权利要求1所述的一种用于提高芯片测试效率的机械臂，其特征在于，所述安装槽内设有环绕延伸部的镶嵌槽，所述镶嵌槽内设有密封圈，当延伸部卡入安装槽时，所述密封圈顶压于延伸部，并构成两者之间的密封配合。

3.根据权利要求1所述的一种用于提高芯片测试效率的机械臂，其特征在于，所述气孔连接有电磁阀。

4.根据权利要求1所述的一种用于提高芯片测试效率的机械臂，其特征在于，所述卡接凸起外周设有向外凸出的定位部，所述定位部用于承接抓取座。

5.根据权利要求1所述的一种用于提高芯片测试效率的机械臂，其特征在于，所述卡接凸起顶端沿朝向基座的方向高度依次降低，形成倾斜的导向侧壁。