[发明专利]一种DDR存储器采样校准方法及DDR存储器有效
| 申请号： | 202310963996.5 | 申请日： | 2023-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN116665731B | 公开（公告）日： | 2023-10-03 |
| 发明（设计）人： | 石志垚;孙浩涛;贾弘翊;韦嶔;张红荣 | 申请（专利权）人： | 成都智多晶科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C11/4076 | 分类号： | G11C11/4076;G11C11/4078;G11C11/4096;G11C29/02 |
| 代理公司： | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人： | 勾慧敏 |
| 地址： | 610095 四川省成都市高*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种DDR存储器采样校准方法及DDR存储器，该方法包括：初始化readclksel；B、接收读数据和第一采样时钟，根据readclksel暂定第一采样时钟的有效区间；对该区间内第一采样时钟的上下边沿数进行检测；若上下边沿数错误，判断readclksel是否已遍历完；若未完，调整readclksel后返回B；否则执行F；E、若上下边沿数正确，记录readclksel并判断readclksel是否已遍历完；若未完，调整readclksel后返回B，否则执行F；F、根据所记录的readclksel确定最终有效区间，并依此生成第二采样时钟进行采样。本发明可提高DDR存储器的采样精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ddr 存储器 采样 校准 方法 | ||
【主权项】：
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