[发明专利]X射线半导体探测器的测量装置及测量方法在审
| 申请号： | 202310552205.X | 申请日： | 2023-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN116774271A | 公开（公告）日： | 2023-09-19 |
| 发明（设计）人： | 邓宁勤;赵瑞;吴金杰;张健;郭彬;杨智君;李德红 | 申请（专利权）人： | 中国计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00;G01T1/24 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 朱淑宇 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明提供X射线半导体探测器的测量装置及测量方法，涉及设备性能测量技术领域，装置包括X射线产生系统和半导体探测器测试系统，X射线产生系统包括X射线光机、限束光阑组件、屏蔽箱体、快门装置、双盘过滤系统，双盘过滤系统包括双滤过盘和控制器，双滤过盘的过滤板孔位安装过滤片，控制器调节生成不同能量X射线，半导体探测器测试系统包括温度调节组件和气压模块，气压模块包括密闭室和气压调节组件，将半导体探测器放在密闭室后，调节密闭室的温度和气压，通过调节过滤片之间的组合生成不同能量X射线，装置操作简单，可以避免由于频繁调节温度气压或者更换辐射源导致测量条件改变的问题，可保证测量结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 半导体 探测器 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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