[发明专利]一种OLED面板缺陷判别方法、装置、设备和介质在审

专利信息
申请号: 202310545831.6 申请日: 2023-05-16
公开(公告)号: CN116258721A 公开(公告)日: 2023-06-13
发明(设计)人: 请求不公布姓名 申请(专利权)人: 成都数之联科技股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06V10/762;G06V10/774;G06N3/006;G06N3/08
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 孙朝锐
地址: 610000 四川省*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本申请实施例公开了一种OLED面板缺陷判别方法、装置、设备和介质,涉及数据聚类技术领域,解决了现有方法中针对OLED面板的缺陷判别方法效率较低的技术问题。所述方法包括:获取OLED面板图像;将所述OLED面板图像输入已训练的YOLOV5目标检测模型中,以获得缺陷检测结果;其中,所述YOLOV5目标检测模型是利用样本图像集和基于改进量子粒子群优化后的K‑means聚类算法训练获得;所述样本图像集包括关于OLED面板的样本图像;基于所述缺陷检测结果,输出目标缺陷检测结果。
搜索关键词: 一种 oled 面板 缺陷 判别 方法 装置 设备 介质
【主权项】:
暂无信息
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