[发明专利]一种探伤记录缺陷转变成表面半椭圆缺陷的方法在审

专利信息
申请号: 202310519956.1 申请日: 2023-05-10
公开(公告)号: CN116663256A 公开(公告)日: 2023-08-29
发明(设计)人: 石凯凯;张毅雄;曾忠秀;王岩;艾红雷;谢海;郑连纲;白晓明;傅孝龙;邵雪娇;米雪;郑斌;何曼如;朱笔达;孙原尊 申请(专利权)人: 中国核动力研究设计院
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F111/08;G06F111/10
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 董和煦
地址: 610213 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及无损探伤和断裂力学技术领域,尤其涉及一种探伤记录缺陷转变成表面半椭圆缺陷的方法。本发明包括如下步骤:S1、通过无损探伤仪器显示设备材料内部的探伤记录缺陷形状;S2、结合S1中的探伤记录缺陷形状,将探伤记录缺陷标准化为圆形缺陷或长方形缺陷,计算标准化缺陷面积Srecord;S3、在S2获得的标准化缺陷面积Srecord基础上引入安全系数后获得假设缺陷面积S0;S4、将S3中的假设缺陷转变为材料内部椭圆缺陷;S5、将S4中材料内部椭圆缺陷转变为分析用表面半椭圆缺陷。本发明能够建立无损探伤的记录缺陷转变成分析用表面半椭圆缺陷的模型。
搜索关键词: 一种 探伤 记录 缺陷 转变成 表面 椭圆 方法
【主权项】:
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