[发明专利]一种探伤记录缺陷转变成表面半椭圆缺陷的方法

权利要求书

1.一种探伤记录缺陷转变成表面半椭圆缺陷的方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1、通过无损探伤仪器显示设备材料内部的探伤记录缺陷形状；

S2、结合S1中的探伤记录缺陷形状，将探伤记录缺陷标准化为圆形缺陷或长方形缺陷，计算标准化缺陷面积S_record；

S3、在S2获得的标准化缺陷面积S_record基础上引入安全系数后获得假设缺陷面积S₀；

S4、将S3中的假设缺陷转变为材料内部椭圆缺陷；

S5、将S4中材料内部椭圆缺陷转变为分析用表面半椭圆缺陷。

2.根据权利要求1所述的探伤记录缺陷转变成表面半椭圆缺陷的方法，其特征在于，所述将探伤记录缺陷标准化为圆形缺陷或长方形缺陷，其原则为覆盖探伤记录缺陷且最小标准化面积。

3.根据权利要求1所述的探伤记录缺陷转变成表面半椭圆缺陷的方法，其特征在于，若所述标准化为圆形缺陷，其直径为D_record；若所述标准化为长方形缺陷，其长边为L_record，短边为W_record，若长方形缺陷的长边与短边相等，则为正方形缺陷。

4.根据权利要求1所述的探伤记录缺陷转变成表面半椭圆缺陷的方法，其特征在于，所述安全系数SF＝1+p，所述假设缺陷面积S₀＝(1+p)×S_record，其中SF为安全系数，p为与检测概率相关的因子且要求大于等于零。

5.根据权利要求4所述的探伤记录缺陷转变成表面半椭圆缺陷的方法，其特征在于，所述p值取决于无损探伤仪器检测缺陷尺寸的概率。

6.根据权利要求1所述的探伤记录缺陷转变成表面半椭圆缺陷的方法，其特征在于，所述将假设缺陷转变为材料内部椭圆缺陷，其原则为假设缺陷面积S₀与所转变的材料内部椭圆缺陷面积S₁＝π·a·c相等，其中材料内部椭圆缺陷的短半轴为a与长半轴为c。

7.根据权利要求6所述的探伤记录缺陷转变成表面半椭圆缺陷的方法，其特征在于，所述a/c比值不超过0.7。

8.根据权利要求6所述的探伤记录缺陷转变成表面半椭圆缺陷的方法，其特征在于，所述

9.根据权利要求6所述的探伤记录缺陷转变成表面半椭圆缺陷的方法，其特征在于，所述将材料内部椭圆缺陷转变为分析用表面半椭圆缺陷，其准则为内部椭圆缺陷最深点短半轴a处的曲率半径与分析用表面半椭圆缺陷最深点短半轴a^*处的曲率半径相等；即其中a^*为分析用表面半椭圆缺陷的短半轴，c^*为分析用表面半椭圆缺陷的长半轴。

10.根据权利要求9所述的探伤记录缺陷转变成表面半椭圆缺陷的方法，其特征在于，所述a^*＝2a，