[发明专利]一种电子元器件表面划痕检测方法有效
| 申请号： | 202310511304.3 | 申请日： | 2023-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN116228768B | 公开（公告）日： | 2023-07-21 |
| 发明（设计）人： | 姬忠勇;李殿雨 | 申请（专利权）人： | 济宁众达利电气设备有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/136;G06T7/13;G06T5/00 |
| 代理公司： | 济宁仁礼信知识产权代理事务所(普通合伙) 37383 | 代理人： | 李淑花 |
| 地址： | 272500 山东省济*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明涉及图像处理技术领域，具体涉及一种电子元器件表面划痕检测方法，该方法包括：获取电子元器件的芯片表面图像及其灰度图像，获取特征值共生矩阵及其角二阶矩，并获取第一高斯滤波半径，获取划痕方向，计算划痕宽度并获取第二高斯滤波半径，将第一高斯滤波半径与第二高斯滤波半径的均值作为最优高斯滤波半径，以最优高斯滤波半径对目标灰度图像进行高斯滤波处理得到去噪图像，根据去噪图像确定划痕区域，本发明通过最优高斯滤波半径对灰度图像进行滤波处理，然后利用滤波处理后的图像进行边缘检测，从而提高划痕区域边缘的检测精度，进而确定准确的划痕区域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 表面 划痕 检测 方法 | ||
【主权项】：
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