[发明专利]一种用于降低磁电传感器谐振频率的弯曲模式结构在审

专利信息
申请号: 202310429861.0 申请日: 2023-04-21
公开(公告)号: CN116390629A 公开(公告)日: 2023-07-04
发明(设计)人: 高俊奇;李冰;沈莹;刘庆伟 申请(专利权)人: 哈尔滨工程大学
主分类号: H10N39/00 分类号: H10N39/00;H10N30/30;H10N30/853;H10N35/00;H10N35/85
代理公司: 北京盛询知识产权代理有限公司 11901 代理人: 马文巧
地址: 150001 黑龙江*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明公开了一种用于降低磁电传感器谐振频率的弯曲模式结构,包括由上至下依次设置的第一Kapton电极层、PZT压电陶瓷层、第二Kapton电极层和Metglas磁致伸缩材料层;其中,当弯曲模式结构在磁场环境中工作时,所述Metglas磁致伸缩材料层产生形变,应变使粘连紧密的PZT压电陶瓷层受到应力变化,从而产生对应电极化效应,使所述第一Kapton电极层和第二Kapton电极层的叉指电极两端输出电压发生变化。本发明噪声基底极小,大大提高了低频磁场环境的实用性。
搜索关键词: 一种 用于 降低 磁电 传感器 谐振 频率 弯曲 模式 结构
【主权项】:
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