[发明专利]缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202310301948.X | 申请日： | 2023-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN116309499A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 请求不公布姓名 | 申请（专利权）人： | 上海先导慧能技术有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/74 |
| 代理公司： | 广州德科知识产权代理有限公司 44381 | 代理人： | 蔡丽妮;万振雄 |
| 地址： | 201100 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例公开一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取包含待检测对象的当前帧图像；将当前帧图像与至少一个图像特征模板进行比较，并根据比较结果确定待检测对象对应的缺陷检测结果；其中，每个图像特征模板是根据对应的目标样本图像序列生成的，每组目标样本图像序列包括按照采集时间先后顺序排列的多帧样本图像，样本图像包括具有缺陷的对象。实施本申请实施例，通过一段时间内的按照时间先后顺序进行排列的样本图像，做成图像特征模板，能够降低光照、灰尘等因素造成的噪声影响，使得图像特征模板更好地体现具有缺陷的对象的特征，从而提高对待检测对象进行缺陷检测的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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