[发明专利]缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202310301948.X 申请日: 2023-03-24
公开(公告)号: CN116309499A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 请求不公布姓名 申请(专利权)人: 上海先导慧能技术有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06V10/74
代理公司: 广州德科知识产权代理有限公司 44381 代理人: 蔡丽妮;万振雄
地址: 201100 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括:

获取包含待检测对象的当前帧图像;

将所述当前帧图像与至少一个图像特征模板进行比较,并根据比较结果确定所述待检测对象对应的缺陷检测结果;其中,每个所述图像特征模板是根据对应的目标样本图像序列生成的,每组所述目标样本图像序列包括按照采集时间先后顺序排列的多帧样本图像,所述样本图像包括具有缺陷的对象。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述图像特征模板包括像素特征模板及灰度模板;

所述将所述当前帧图像与至少一个图像特征模板进行比较,并根据比较结果确定所述待检测对象对应的缺陷检测结果,包括:

将所述当前帧图像与至少一个所述像素特征模板进行比较,得到第一比较结果;

将所述当前帧图像与至少一个所述灰度模板进行比较,得到第二比较结果;

根据所述第一比较结果以及所述第二比较结果,确定所述待检测对象对应的缺陷检测结果。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将所述当前帧图像与至少一个所述像素特征模板进行比较,包括:

对所述当前帧图像进行像素特征提取,得到所述当前帧图像对应的像素特征图;

计算所述当前帧图像对应的像素特征图与至少一个所述像素特征模板之间的特征相似度;

将所述像素特征图与每个所述像素特征模板之间的特征相似度与相似度阈值进行比较,得到第一比较结果;

其中,若所述像素特征图与第一像素特征模板之间的特征相似度大于所述相似度阈值,表征所述当前帧图像与所述第一像素特征模板相匹配,所述第一像素特征模板为任一所述像素特征模板。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述像素特征模板包括根据对应的目标样本图像序列生成的局部二值模式LBP特征模板;

所述对所述当前帧图像进行像素特征提取,得到所述当前帧图像对应的像素特征图,包括:

通过LBP算法对所述当前帧图像进行像素特征提取,得到所述当前帧图像对应的LBP特征图。

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述将所述当前帧图像与至少一个所述灰度模板进行比较,包括:

将所述当前帧图像转换为灰度图,得到当前帧灰度图;

确定所述当前帧灰度图中每个像素点的像素值,与第一灰度模板中对应的像素点的像素值之间的像素差值;所述第一灰度模板为任一所述灰度模板;

统计所述当前帧灰度图中,对应的像素差值大于差值阈值的像素点数量,以得到所述第一灰度模板对应的偏差结果;

将各个所述灰度模板对应的偏差结果与偏差阈值进行比较,得到第二比较结果;

其中,若所述第一灰度模板对应的偏差结果大于所述偏差阈值,表征所述当前帧图像与所述第一灰度模板相匹配。

6.根据权利要求2~5任一所述的方法,其特征在于,所述根据比较结果确定所述待检测对象对应的缺陷检测结果,包括:

根据所述第一比较结果确定与所述当前帧图像相匹配的所述像素特征模板的第一数量,以及根据所述第二比较结果确定与所述当前帧图像相匹配的所述灰度模板的第二数量;

根据所述第一数量确定第一缺陷分数;

根据所述第二数量确定第二缺陷分数;

根据所述第一缺陷分数及第二缺陷分数确定所述待检测对象对应的缺陷检测结果。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在将所述当前帧图像与至少一个图像特征模板进行比较之前,所述方法还包括:

获取针对具有缺陷的对象在一个时间段内采集的初始样本图像序列,所述初始样本图像序列包括多帧按照采集时间先后顺序排列的样本图像;

在所述初始样本图像序列中确定第一目标样本图像序列对应的首帧样本图像,并按照固定的帧数间隔从所述初始样本图像序列中选取多帧样本图像,以得到所述第一目标样本图像序列,所述第一目标样本图像序列为任一所述目标样本图像序列;

根据N组所述目标样本图像序列生成对应的M个图像特征模板;所述N、M为正整数,所述M大于或等于所述N。

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