[发明专利]一种平面型碳化硅场效应管及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202310288748.5 申请日: 2023-03-23
公开(公告)号: CN116031304A 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 黄兴;刘进 申请(专利权)人: 派恩杰半导体(杭州)有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 福州市京华专利代理事务所(普通合伙) 35212 代理人: 王美花
地址: 310000 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种平面型碳化硅场效应管及其制造方法,所述场效应管包括元胞结构,所述元胞结构包括:碳化硅衬底;外延层,所述外延层连接至所述碳化硅衬底上侧面;所述外延层内设有PWELL阱层;所述PWELL阱层内设有N+注入区以及金属硅化物层;所述金属硅化物层连接至所述N+注入区;栅极氧化层,所述栅极氧化层连接所述外延层、PWELL阱区以及N+注入区;栅极导电层,所述栅极导电层连接至所述栅极氧化层,且所述栅极导电层位于所述N+注入区上方;源极导电层,所述源极导电层连接至所述金属硅化物层;及漏极导电层,所述漏极导电层连接至所述碳化硅衬底下侧面,无需留出P+注入区,能在现有平面栅的工艺上缩小器件尺寸。
搜索关键词: 一种 平面 碳化硅 场效应 及其 制造 方法
【主权项】:
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