[发明专利]基于散点图的半导体批次优先级及生产计划分析方法

摘要

本发明公开了一种基于散点图的半导体批次优先级及生产计划分析方法，包括如下步骤：(1)通过数据预处理，将需要展现的数据处理成需要的形式；(2)定义各轴坐标；(3)点击图中坐标点，展现Lot信息、当前工序、当前排产耗时、工序名称的相关信息：优先级、类型、站点名、工序名称、Lot实时状态、排产耗时等信息的综合展现。本发明基于散点图的形式完成对Lot排产优先级、Lot实时状态、工序名称、站点描述、排产耗时等信息的综合展现，降低人工及MES系统参与度，能够有效提高对Lot追踪判断的准确性及管理的智能化。