[实用新型]一种快速检测试样的半导体冷热冲击试验箱有效
| 申请号： | 202221636401.2 | 申请日： | 2022-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN218180576U | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 张迎春;严尚虎 | 申请（专利权）人： | 朗道供应链（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/60 | 分类号： | G01N3/60;G01N3/02 |
| 代理公司： | 苏州企知鹰知识产权代理事务所(普通合伙) 32420 | 代理人： | 薛芳芳 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种快速检测试样的半导体冷热冲击试验箱，包括：箱体；设于所述箱体内、以将箱体通过隔离板被分为加热腔和冷冻腔，所述隔离板开设有贯穿其厚度方向的通槽；设于箱体内的容纳装置，所述容纳装置包括：转动式装配于隔离板内且含有对称设置的容纳槽的转动柱、嵌设于所述容纳槽中用于装夹工件的夹持组件。本实用新型通过隔离板将箱体的空腔分为加热腔和冷冻腔，通过转动板上的两个容纳槽固定夹持有工件的夹持组件，通过转动柱的转动实现工件在加热腔与冷冻腔的转移，达到试验目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 检测 试样 半导体 冷热 冲击 试验 | ||
【主权项】：
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