[实用新型]一种快速检测试样的半导体冷热冲击试验箱

权利要求书

1.一种快速检测试样的半导体冷热冲击试验箱，其特征在于，包括：箱体；

设于所述箱体内、以将箱体通过隔离板被分为加热腔和冷冻腔，所述隔离板开设有贯穿其厚度方向的通槽；

设于箱体内的容纳装置，所述容纳装置包括：转动式装配于隔离板内且含有对称设置的容纳槽的转动柱、嵌设于所述容纳槽中用于装夹工件的夹持组件。

2.根据权利要求1所述的快速检测试样的半导体冷热冲击试验箱，其特征在于，所述加热腔内设置有加热机构，所述冷冻腔内设置有降温机构。

3.根据权利要求1所述的快速检测试样的半导体冷热冲击试验箱，其特征在于，所述转动柱长度方向上固定连接有转轴，所述转轴贯穿隔离板与箱体与设置在箱体外部的电机同轴连接。

4.根据权利要求1所述的快速检测试样的半导体冷热冲击试验箱，其特征在于，所述夹持组件包括容纳盒，所述容纳盒内设置有第一固定板和第二固定板，所述第一固定板上螺纹连接有螺杆，所述第二固定板上转动连接有转动杆。

5.根据权利要求4所述的快速检测试样的半导体冷热冲击试验箱，其特征在于，所述螺杆靠近转动杆的一端套设有夹持件，所述转动杆靠近螺杆的一端套设有夹持件相对应的定位件。

6.根据权利要求4所述的快速检测试样的半导体冷热冲击试验箱，其特征在于，所述容纳槽中设置有卡块，所述容纳盒与卡块相对应的位置开设有卡槽。

7.根据权利要求1所述的快速检测试样的半导体冷热冲击试验箱，其特征在于，所述隔离板与转动柱长度方向相对应的两侧分别开设有连通加热腔或冷冻腔的第一导气通道和第二通槽导气通道，所述第一导气通道和第二导气通道内均设置有与气泵连接的管道。

8.根据权利要求7所述的快速检测试样的半导体冷热冲击试验箱，其特征在于，所述通槽的周壁上设置有密封圈，所述密封圈与第一导气通道和第二导气通道相对应的位置均开设有通孔。