[实用新型]一种高频芯片测试探针卡有效
| 申请号： | 202220470058.2 | 申请日： | 2022-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN217561574U | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 张磊 | 申请（专利权）人： | 无锡普罗卡科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京睿博行远知识产权代理有限公司 11297 | 代理人： | 王建文 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种高频芯片测试探针卡，涉及探针卡技术领域。本实用新型包括配装调节结构和探针卡输出结构，配装调节结构的周侧面设置有探针卡输出结构，配装调节结构用于调节探针的角度和数量，探针卡输出结构用于自动化调节探针的输出长度，配装调节结构包括搭载盘主体、推导槽、位移环和磁吸搭载块，搭载盘主体的周侧面开设有位移环，搭载盘主体的一端开设有推导槽，位移环的外侧磁吸有磁吸搭载块。本实用新型通过配装调节结构的设计，使得装置便于调节探针的搭载数量和搭载角度，大大提高了测试的引用便捷程度，且通过探针卡输出结构的设计，使得装置便于自动化调节探针的输出长度，并便于完成对探测反力进行抵消。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高频 芯片 测试 探针 | ||
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