[发明专利]一种准平面异物检测方法、设备及介质在审

专利信息
申请号: 202211722240.3 申请日: 2022-12-30
公开(公告)号: CN115953379A 公开(公告)日: 2023-04-11
发明(设计)人: 许野平;丁鑫;朱爱红;张朝瑞;刘明顺 申请(专利权)人: 神思电子技术股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/73;G06T5/00;G06T1/00;G06T3/00;G06V10/762;G06N20/00
代理公司: 济南千慧专利事务所(普通合伙企业) 37232 代理人: 傅静
地址: 250101 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 本申请公开了一种准平面异物检测方法、设备及介质,方法包括:采集物件在不同方向上的准平面表面图像,并分别生成对应的多张第一数字图像;基于物件在准平面表面上预设的若干个定位特征点,对第一数字图像进行图像变换处理,得到无透视畸变且定位特征点相同的第二数字图像;在第二数字图像中提取图形特征点,并将其中的噪点排除后,得到特异点集合,并根据特异点集合确定可疑目标;采集可疑目标对应的特写数字图像,并根据特写数字图像对可疑目标进行异物检测。相比于激光雷达、结构光等检测的方法,能够有效提高检测精度。并且在初筛过程中对噪点进行排除,可以减少物件表面损伤、漆面脱落、污染、表面纹理图案等原因造成的干扰,降低误报次数。
搜索关键词: 一种 平面 异物 检测 方法 设备 介质
【主权项】:
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