[发明专利]一种准平面异物检测方法、设备及介质在审
| 申请号: | 202211722240.3 | 申请日: | 2022-12-30 |
| 公开(公告)号: | CN115953379A | 公开(公告)日: | 2023-04-11 |
| 发明(设计)人: | 许野平;丁鑫;朱爱红;张朝瑞;刘明顺 | 申请(专利权)人: | 神思电子技术股份有限公司 |
| 主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/73;G06T5/00;G06T1/00;G06T3/00;G06V10/762;G06N20/00 |
| 代理公司: | 济南千慧专利事务所(普通合伙企业) 37232 | 代理人: | 傅静 |
| 地址: | 250101 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 平面 异物 检测 方法 设备 介质 | ||
本申请公开了一种准平面异物检测方法、设备及介质,方法包括:采集物件在不同方向上的准平面表面图像,并分别生成对应的多张第一数字图像;基于物件在准平面表面上预设的若干个定位特征点,对第一数字图像进行图像变换处理,得到无透视畸变且定位特征点相同的第二数字图像;在第二数字图像中提取图形特征点,并将其中的噪点排除后,得到特异点集合,并根据特异点集合确定可疑目标;采集可疑目标对应的特写数字图像,并根据特写数字图像对可疑目标进行异物检测。相比于激光雷达、结构光等检测的方法,能够有效提高检测精度。并且在初筛过程中对噪点进行排除,可以减少物件表面损伤、漆面脱落、污染、表面纹理图案等原因造成的干扰,降低误报次数。
技术领域
本申请涉及图像分析领域,具体涉及一种准平面异物检测方法、设备及介质。
背景技术
许多应用场景要求对大型物件表面的微小物体进行检测。比如,集装箱表面异物检测要求能够探测集装箱顶面上散落的尺寸超过5毫米的小物体。
传统的检测方法中,可以基于图像检测的方法,然而该种方式难以处理因大型物件表面损伤、漆面脱落、污染、表面纹理图案等原因造成的干扰,容易引起误报。还可以基于激光雷达、结构光等检测的方法,然而其对于像集装箱这样的大型物件,由于精度原因,难探测5毫米尺度的小目标。
发明内容
为了解决上述问题,本申请提出了一种准平面异物检测方法,包括:
采集物件在不同方向上的准平面表面图像,并分别生成对应的多张第一数字图像;
基于所述物件在准平面表面上预设的若干个定位特征点,对所述第一数字图像进行图像变换处理,得到无透视畸变且所述定位特征点相同的第二数字图像;
在所述第二数字图像中提取图形特征点,并将其中的噪点排除后,得到特异点集合,并根据所述特异点集合确定可疑目标;
采集所述可疑目标对应的特写数字图像,并根据所述特写数字图像对所述可疑目标进行异物检测。
在一个示例中,基于所述物件在准平面表面上预设的若干个定位特征点,对所述第一数字图像进行图像变换处理,得到无透视畸变且所述定位特征点相同的第二数字图像,具体包括:
确定所述物件的准平面表面为矩形,根据霍夫变换检测到所述矩形的四条边,并依据四条边求得所述矩形的四个角顶点的坐标,并将所述矩形的四个角定点作为所述准平面表面的定位特征点;
根据所述定位特征点,对所述第一数字图像进行图像变换处理,得到无透视畸变且所述定位特征点相同的第二数字图像,所述图像变换处理包括透视变换、位移、放缩变换。
在一个示例中,在所述第二数字图像中提取图形特征点,并将其中的噪点排除后,得到特异点集合,具体包括:
通过SIFT特征方法在所述第二数字图像中提取图形特征点;
将多张第二数字图像中坐标相同的图形特征点排除;
确定基于历史记录建立的Codebook背景模型,并根据所述Codebook背景模型排除规律性干扰点;
基于聚类方法排除指定半径范围内的孤立特征点;
根据排除后的剩余的图形特征点得到特异点集合。
在一个示例中,并根据所述特异点集合确定可疑目标,具体包括:
根据所述特异点集合,利用聚类算法得到可疑目标个数以及各可疑目标在所述物件的准平面表面上的坐标和大小,生成可疑目标清单。
在一个示例中,根据所述特写数字图像对所述可疑目标进行异物检测,具体包括:
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