[发明专利]缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品有效
| 申请号： | 202211701346.5 | 申请日： | 2022-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN115690102B | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 请求不公布姓名 | 申请（专利权）人： | 摩尔线程智能科技（北京）有限责任公司;摩尔线程智能科技(上海)有限责任公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06T5/30;G06V10/28;G06V10/34;G06V10/44;G06V10/75;G06V10/82;G06N3/08;G06N3/045 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 100080 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及图像数据处理技术领域，尤其涉及一种缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：获取待检测图像以及所述待检测图像对应的模板图像；根据所述待检测图像和所述模板图像，确定所述待检测图像中的缺陷的候选框；至少根据所述候选框对应的图像块在形态学变换前后的差异信息，确定所述候选框对应的缺陷检测结果。本公开利用候选框对应的图像块在形态学变换前后的差异信息对候选框进行缺陷检测，能够提高缺陷检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 程序 产品 | ||
【主权项】：
暂无信息
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