[发明专利]缺陷检测方法、装置、电子设备、存储介质和程序产品

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测图像以及所述待检测图像对应的模板图像；

根据所述待检测图像和所述模板图像，确定所述待检测图像中的缺陷的候选框；

至少根据所述候选框对应的图像块在形态学变换前后的差异信息，确定所述候选框对应的缺陷检测结果；

其中，所述候选框对应的图像块包括：所述候选框在所述模板图像上的第一图像块，以及所述候选框在差异图像上的第二图像块，所述差异图像表示所述待检测图像与所述模板图像的差异图像；

所述至少根据所述候选框对应的图像块在形态学变换前后的差异信息，确定所述候选框对应的缺陷检测结果，包括：至少根据所述第一图像块在形态学变换前后的差异信息，以及所述第二图像块在形态学变换前后的差异信息，确定所述候选框对应的缺陷检测结果；

所述至少根据所述第一图像块在形态学变换前后的差异信息，以及所述第二图像块在形态学变换前后的差异信息，确定所述候选框对应的缺陷检测结果，包括：

获得所述第一图像块对应的第一二值化图像块，以及所述第二图像块对应的第二二值化图像块；

对所述第一二值化图像块执行形态学操作，得到所述第一二值化图像块对应的第一形态学变换图像块；

对所述第二二值化图像块执行形态学操作，得到所述第二二值化图像块对应的第二形态学变换图像块；

根据所述第一二值化图像块与所述第一形态学变换图像块之间像素值不同的第一像素数，以及所述第二二值化图像块与所述第二形态学变换图像块之间像素值不同的第二像素数，确定所述候选框对应的缺陷检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获得所述第一图像块对应的第一二值化图像块，以及所述第二图像块对应的第二二值化图像块，包括：

对所述第一图像块对应的第一灰度图像块和所述第二图像块对应的第二灰度图像块分别进行模糊操作，得到所述第一图像块对应的第一模糊图像块和所述第二图像块对应的第二模糊图像块；

对所述第一模糊图像块和所述第二模糊图像块分别进行二值化操作，得到所述第一图像块对应的第一二值化图像块和所述第二图像块对应的第二二值化图像块。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述对所述第一二值化图像块执行形态学操作，得到所述第一二值化图像块对应的第一形态学变换图像块，包括：基于至少两种尺寸的核，对所述第一二值化图像块执行形态学操作，得到所述第一二值化图像块对应的至少两个第一形态学变换图像块；

所述对所述第二二值化图像块执行形态学操作，得到所述第二二值化图像块对应的第二形态学变换图像块，包括：基于至少两种尺寸的核，对所述第二二值化图像块执行形态学操作，得到所述第二二值化图像块对应的至少两个第二形态学变换图像块；

所述根据所述第一二值化图像块与所述第一形态学变换图像块之间像素值不同的第一像素数，以及所述第二二值化图像块与所述第二形态学变换图像块之间像素值不同的第二像素数，确定所述候选框对应的缺陷检测结果，包括：对于所述至少两个第一形态学变换图像块，分别确定所述第一二值化图像块与所述第一形态学变换图像块之间像素值不同的像素数，得到至少两项第一像素数；对于所述至少两个第二形态学变换图像块，分别确定所述第二二值化图像块与所述第二形态学变换图像块之间像素值不同的像素数，得到至少两项第二像素数；根据所述至少两项第一像素数和所述至少两项第二像素数，确定所述候选框对应的缺陷检测结果。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述第一形态学变换图像块包括第一膨胀图像块和第一腐蚀图像块，所述第二形态学变换图像块包括第二膨胀图像块和第二腐蚀图像块；

所述对所述第一二值化图像块执行形态学操作，得到所述第一二值化图像块对应的第一形态学变换图像块，包括：对所述第一二值化图像块执行膨胀操作，得到所述第一二值化图像块对应的第一膨胀图像块；对所述第一二值化图像块执行腐蚀操作，得到所述第一二值化图像块对应的第一腐蚀图像块；

所述对所述第二二值化图像块执行形态学操作，得到所述第二二值化图像块对应的第二形态学变换图像块，包括：对所述第二二值化图像块执行膨胀操作，得到所述第二二值化图像块对应的第二膨胀图像块；对所述第二二值化图像块执行腐蚀操作，得到所述第二二值化图像块对应的第二腐蚀图像块。