[发明专利]一种表面缺陷数据合成与评估方法及电子设备、储存介质

摘要

本发明公开了一种表面缺陷数据合成与评估方法及电子设备、储存介质。该方法利用工业产品缺陷的源数据，对数据生成模型进行训练，并得到合成的缺陷生成数据；将所述合成的缺陷生成数据输入到综合性能评价指标模型，计算所述合成的缺陷生成数据的性能参数值；将所述性能参数值输入至缺陷替代性评价模型，计算最终的替代性评估值；将所述替代性评估值进行可视化呈现。本发明基于内容生成多种类缺陷数据，完善缺陷样本的多样性，并制定生成缺陷数据替代性评估指标，克服当前数据生成领域无标准化评判数据性能方法的瓶颈。