[发明专利]存储器件及其制造方法在审
| 申请号: | 202211497500.1 | 申请日: | 2022-11-24 |
| 公开(公告)号: | CN116171039A | 公开(公告)日: | 2023-05-26 |
| 发明(设计)人: | 李善行;张日午;洪智琡 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
| 主分类号: | H10B12/00 | 分类号: | H10B12/00 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 孙尚白;倪斌 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | 本公开涉及存储器件及其制造方法。在实施例中,一种存储器件包括存储单元阵列、第一虚设电容器、第二虚设电容器和第三虚设电容器。存储单元阵列包括形成在基板上的栅极结构、与栅极结构相邻的第一有源区、设置在栅极结构与第一有源区之间的栅极绝缘层、以及连接到第一有源区的单元电容器。第一虚设电容器和第二虚设电容器沿着第一方向和竖直方向延伸,并且被设置为在第二方向上与存储单元阵列相邻。第三虚设电容器沿着第二方向和竖直方向延伸,并且被设置为在第一方向上与存储单元阵列相邻。存储单元阵列设置在第一虚设电容器与第二虚设电容器之间。 | ||
| 搜索关键词: | 存储 器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
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