[发明专利]存储器可靠性测试方法及装置、存储介质、电子设备在审
| 申请号： | 202211349912.0 | 申请日： | 2022-10-31 |
| 公开（公告）号： | CN115691648A | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 张建 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 张旭庆 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开是关于一种存储器可靠性测试方法及装置、存储介质及电子设备。该方法包括：向存储器发送多个写命令信号；获取存储器在接收到每个写命令信号后产生的数据选通信号及其对应的时钟信号；根据每个写命令信号后产生的数据选通信号及其对应的时钟信号，获取多个写命令信号下的数据选通叠加信号和时钟叠加信号；根据数据选通信号与时钟信号相位差允许范围及相位差结束点，确定相位差起始点；基于时钟叠加信号和数据选通叠加信号，根据相位差结束点和相位差起始点，确定相位差最大值和相位差最小值；将相位差最大值、相位差最小值分别与相位差允许范围进行比较，判断存储器是否满足数据写入可靠性要求。提供了一种确定时序参数tDQSS的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 可靠性 测试 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长鑫存储技术有限公司，未经长鑫存储技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211349912.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
