[发明专利]存储器可靠性测试方法及装置、存储介质、电子设备在审
申请号: | 202211349912.0 | 申请日: | 2022-10-31 |
公开(公告)号: | CN115691648A | 公开(公告)日: | 2023-02-03 |
发明(设计)人: | 张建 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人: | 张旭庆 |
地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 存储器 可靠性 测试 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
1.一种存储器可靠性测试方法,其特征在于,所述方法包括:
向存储器发送多个写命令信号;
获取所述存储器在接收到每个所述写命令信号后产生的数据选通信号及其对应的时钟信号;
根据每个所述写命令信号后产生的数据选通信号及其对应的时钟信号,获取多个所述写命令信号下的数据选通叠加信号和时钟叠加信号;
根据数据选通信号与时钟信号相位差允许范围及相位差结束点,确定相位差起始点;
基于所述时钟叠加信号和所述数据选通叠加信号,根据所述相位差结束点和所述相位差起始点,确定相位差最大值和相位差最小值;
将所述相位差最大值、所述相位差最小值分别与所述相位差允许范围进行比较,判断所述存储器是否满足数据写入可靠性要求。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据数据选通信号与时钟信号相位差允许范围及相位差结束点,确定相位差起始点,包括:
设置所述相位差起始点所在的所述时钟叠加信号的初始上升沿;
确定所述初始上升沿的中间位置距所述相位差结束点的相位差平均值;
判断所述相位差平均值是否在所述相位差允许范围内;
若在,则确定所述初始上升沿为所述相位差起始点所在的目标上升沿;
若不在,则前移或后移所述初始上升沿,并确定对应的距所述相位差结束点的所述相位差平均值,直到确定出所述目标上升沿。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定所述初始上升沿的中间位置距所述相位差结束点的相位差平均值,包括:
将所述相位差结束点所在上升沿中间位置的数据选通信号平均值,与所述初始上升沿的中间位置的时钟信号平均值的差值,确定为所述相位差平均值。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述时钟叠加信号和所述数据选通叠加信号,根据所述相位差结束点和所述相位差起始点,确定相位差最大值和相位差最小值,包括:
基于所述数据选通叠加信号,确定所述相位差结束点所在上升沿中间位置的第一最大值和第一最小值;
基于所述时钟叠加信号,确定所述相位差起始点所在上升沿中间位置的第二最大值和第二最小值;
将所述第一最大值与所述第二最小值的差值,确定为所述相位差最大值;
将所述第一最小值和所述第二最大值的差值,确定为所述相位差最小值。
5.根据权利要求1或4所述的方法,其特征在于,所述将所述相位差最大值、所述相位差最小值分别与所述相位差允许范围进行比较,判断所述存储器是否满足数据写入可靠性要求,包括:
若所述相位差最大值和所述相位差最小值均在所述相位差允许范围内,则确定所述存储器满足数据写入可靠性要求;
若所述相位差最大值或所述相位差最小值没在所述相位差允许范围内,则确定所述存储器不满足数据写入可靠性要求。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
向所述存储器发送的所述写命令信号的数量大于预设数量。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据每个所述写命令信号后产生的数据选通信号及其对应的时钟信号,获取多个所述写命令信号下的数据选通叠加信号和时钟叠加信号,包括:
将多个所述写命令信号下的所述数据选通信号叠加,获得所述数据选通叠加信号;
将多个所述写命令信号下的所述时钟信号叠加,获得所述时钟叠加信号。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长鑫存储技术有限公司,未经长鑫存储技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211349912.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。