[发明专利]基于X射线的集成箱体内部缺陷识别方法在审
| 申请号： | 202211325116.3 | 申请日： | 2022-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN115457031A | 公开（公告）日： | 2022-12-09 |
| 发明（设计）人： | 葛峰;戴建中;顾小东 | 申请（专利权）人： | 江苏集宿智能装备有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13;G06T5/00 |
| 代理公司： | 武汉华强专利代理事务所(普通合伙) 42237 | 代理人： | 康晨 |
| 地址： | 226000 江苏省南通市开发区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及数据处理技术领域，具体涉及一种基于X射线的集成箱体内部缺陷识别方法，该方法获取集装箱内部的X射线图像以得到集装箱内部灰度图像；根据集装箱内部灰度图像中的每列像素点的灰度值构建对应列的集装箱灰度曲线分布图，获取集装箱灰度曲线分布图中的目标像素点，从目标像素点开始对像素点分组得到多组；根据每组的灰度下降特征值和相邻组的特征值波动度，得到突变像素点；获取每张集装箱灰度曲线分布图对应的突变像素点，得到焊缝上边缘；获取焊缝下边缘，由焊缝上边缘和焊缝下边缘得到焊缝区域；对焊缝区域进行超像素分割，得到多个超像素块，根据超像素块中的灰度值进行缺陷检测。本发明能够快速准确地进行缺陷识别。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 射线 集成 箱体 内部 缺陷 识别 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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