[发明专利]一种部件的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202211229405.3 | 申请日： | 2022-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN115511856A | 公开（公告）日： | 2022-12-23 |
| 发明（设计）人： | 吴华;刘草 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/40;G06V10/75;G06V10/762;G06V10/764;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 刘凤 |
| 地址： | 102200 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及缺陷检测技术领域，提供了一种部件的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：确定出待检测图像中的目标部件区域图像；从目标部件区域图像中提取出多个特征向量；将多个特征向量输入至预先构建好的多聚类中心特征分布模型之中，确定多个聚类中心向量，并基于多个聚类中心向量对各个特征向量进行分类；基于分类后的多个特征向量，确定出目标部件是否存在缺陷。通过使用不同的聚类中心向量对各个特征向量进行分类，在保证语义信息一致的同时，保留了更多的纹理光照等其他特征信息来表征特征的分布情况，从而实现了仅依靠正样就能实现缺陷检测，解决了工业设备中关键部件的缺陷样本少难题，提高了缺陷检测的准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 部件 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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