[发明专利]一种爆光显影异常缺陷检测方法及系统在审
| 申请号： | 202211211209.3 | 申请日： | 2022-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN115564727A | 公开（公告）日： | 2023-01-03 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 成都数之联科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06T5/00;G06T5/40;G06V10/75 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610000 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种爆光显影异常缺陷检测方法及系统，涉及缺陷检测技术领域，所述方法为：基于原始的面板图像获取主线匹配模板和水平线路匹配模板；基于待检测的面板图像获取主线候选框；基于主线匹配模板筛选主线候选框；基于主线候选框获取待检测的水平线路图像；基于待检测的水平线路图像获取水平线路候选框；基于水平线路匹配模板筛选水平线路候选框；基于水平线路候选框获取待检测的背景图像；对待检测的背景图像进行直方图均衡化处理和网格划分处理，得到若干网格；计算若干网格的灰度均值，基于灰度均值进行爆光显影异常缺陷判定。本发明基于模板匹配、边缘轮廓提取以及直方图均衡化处理，解决了现有中爆光显影异常缺陷检测漏检率高的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显影 异常 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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