[发明专利]一种爆光显影异常缺陷检测方法及系统

权利要求书

1.一种爆光显影异常缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

(1)基于原始的面板图像，获取主线匹配模板T和水平线路匹配模板D；

(2)基于待检测的面板图像，获取若干主线候选框I；其中，主线候选框1的宽度、高度与主线匹配模板T的宽度、高度相同；

(3)基于主线匹配模板T对若干主线候选框I进行相似度匹配，筛选出部分主线候选框I；

(4)基于筛选后的主线候选框I对待检测的面板图像进行图像截取处理和图像拼接处理，得到待检测的水平线路图像；

(5)基于待检测的水平线路图像，获取若干水平线路候选框M，其中，水平线路候选框M的宽度、高度与水平线路匹配模板D的宽度、高度相同；

(6)基于水平线路匹配模板D对若干水平线路候选框M进行相似度匹配，筛选出部分水平线路候选框M；

(7)基于筛选后的水平线路候选框M对待检测的水平线路图像进行图像截取处理和图像拼接处理，得到待检测的背景图像；

(8)对待检测的背景图像进行直方图均衡化处理和网格划分处理，得到若干网格；

(9)计算若干网格的灰度均值，并且基于灰度均值判定待检测的面板图像中是否存在爆光显影异常缺陷。

2.根据权利要求1所述的一种爆光显影异常缺陷检测方法，其特征在于：所述主线匹配模板T包括主线匹配模板T₁和主线匹配模板T₂，所述主线匹配模板T₁和主线匹配模板T₂的宽度均为W₁，高度均为H₁；所述水平线路匹配模板D的宽度为W₂，高度为H₂。

3.根据权利要求2所述的一种爆光显影异常缺陷检测方法，其特征在于：基于待检测的面板图像，获取若干主线候选框I的流程如下：

(2.1)对待检测的面板图像进行边缘轮廓提取处理，并且获取待检测的面板图像的左下角像素点；

(2.2)将待检测的面板图像的左下角像素点作为坐下角点坐标，并且以左下角点坐标为参照点获取一个宽度为W₁，高度为H₁的主线候选框I；

(2.3)将主线候选框I依次向右/向上平移一个像素，获取若干主线候选框I。

4.根据权利要求3所述的一种爆光显影异常缺陷检测方法，其特征在于，基于主线匹配模板T对若干主线候选框I进行相似度匹配的流程如下：

(3.1)依次计算若干主线候选框I与主线匹配模板T₁、主线匹配模板T₂的相似度R₁；

(3.2)如果相似度R₁大于匹配度阈值G₁，则对应的主线候选框I与主线匹配模板T₁或主线匹配模板T₂匹配，其中，匹配度阈值G₁为预设值。

5.根据权利要求2所述的一种爆光显影异常缺陷检测方法，其特征在于，基于待检测的水平线路图像获取若干水平线路候选框M的流程如下：

(5.1)对待检测的水平线路图像进行边缘轮廓提取处理，并且获取待检测的水平线路图像的左下角像素点；

(5.2)将待检测的水平线路图像的左下角像素点作为坐下角点坐标，并且以左下角点坐标为参照点获取一个宽度为W₂，高度为H₂的水平线路候选框M；

(5.3)将水平线路候选框M依次向右/向上平移一个像素，获取若干水平线路候选框M。

6.根据权利要求5所述的一种爆光显影异常缺陷检测方法，其特征在于，基于水平线路匹配模板D对水平线路候选框M进行相似度匹配的流程如下：

(6.1)依次计算若干水平线路候选框M与水平线路匹配模板D的相似度R₂；

(6.2)如果相似度R₂大于匹配度阈值G₂，则对应的水平线路候选框M与水平线路匹配模板D匹配，其中，匹配度阈值G₂为预设值。