[发明专利]阻抗校准以及相关联的方法、装置和系统在审
| 申请号： | 202211194938.2 | 申请日： | 2021-04-06 |
| 公开（公告）号： | CN115512753A | 公开（公告）日： | 2022-12-23 |
| 发明（设计）人： | 李玄元 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 彭晓文 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及阻抗校准以及相关联的方法、装置和系统。一种半导体装置可以包含输入/输出I/O接口区域。所述半导体装置还可以包含多个ZQ校准电路，其中所述多个ZQ校准电路中的每个ZQ校准电路被定位成与所述I/O接口区域的相关联部分相邻。所述半导体装置还可以包含多个插补电路，其中所述多个插补电路中的每个插补电路被定位成与所述I/O接口区域的相关联部分相邻并且被配置成基于多个其它校准代码生成校准代码。进一步地，所述I/O接口区域的与所述多个插补电路相关联的部分至少部分地定位在所述I/O接口区域的与所述多个ZQ校准电路相关联的部分之间。 | ||
| 搜索关键词： | 阻抗 校准 以及 相关 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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