[发明专利]基板处理装置在审
申请号: | 202211075808.7 | 申请日: | 2022-09-02 |
公开(公告)号: | CN115938980A | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 金台东;李晶桓;丁青焕;卢成镐;金颍俊 | 申请(专利权)人: | 圆益IPS股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L31/18 |
代理公司: | 北京青松知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11384 | 代理人: | 郑青松 |
地址: | 韩国京畿道平*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及基板处理装置,更详细地说,涉及通过高压及低压执行基板处理的基板处理装置。本发明公开了一种基板处理装置,包括:工艺腔室(100),形成内部空间(S1);基板支撑部(200),在上面放置基板(1);内盖部(300),形成内部有所述基板支撑部(200)的密封的处理空间(S2);气体供应部(400),将工艺气体供应于所述处理空间(S2);内盖驱动部(600),驱动所述内盖部(300)的上下移动;填充部件(700),设置在所述基板支撑部(200)与所述设置槽(130)的内面之间,以填充所述基板支撑部(200)与所述设置槽(130)的内面之间的空间中的至少一部分。 | ||
搜索关键词: | 处理 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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