[发明专利]基于SLIC超像素的SAR图像多特征区域合并方法在审
| 申请号： | 202211072177.3 | 申请日： | 2022-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN115423838A | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 余航;刘志恒;孙逸博;蒋浩然;周绥平 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G06T7/187 | 分类号： | G06T7/187;G06V10/762;G06V10/54;G06V10/56;G06V10/74;G06V20/13 |
| 代理公司： | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人： | 陈宏社;王品华 |
| 地址： | 710071*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种基于SLIC超像素的SAR图像多特征区域合并方法，用于提高SAR图像分割精度。实现步骤为：采用SLIC超像素算法对SAR图像进行分割；提取每个超像素的灰度特征和纹理特征；获取每两个相邻超像素之间的相似性系数；确定待合并的超像素对；计算每个待合并超像素对的合并指数；获取SAR图像多特征区域合并结果；判断超像素的个数与阈值的大小；输出新合并的超像素的SAR图像。本发明首先使用SLIC超像素算法对SAR图像进行过分割，然后借助不同特征将相邻超像素融合，提高了SAR图像的分割精度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 slic 像素 sar 图像 特征 区域 合并 方法 | ||
【主权项】：
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