[发明专利]一种物体位姿测量方法及电子设备在审
| 申请号： | 202211052912.4 | 申请日： | 2022-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN115420277A | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 魏振忠;冯广堃;刘明坤 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01C21/00 | 分类号： | G01C21/00;G06V10/26;G06V10/44;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 王爱涛 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种物体位姿测量方法及电子设备，涉及位姿测量技术领域，方法包括获取物体位姿图像；将物体位姿图像输入到目标局部图像提取模块，得到待测目标区域；根据待测目标区域裁剪物体位姿图像，得到目标局部图像；将目标局部图像输入到法矢量特征预测模块，得到多种法矢量特征；将目标局部图像的坐标数据和多种位姿图像特征均输入到位姿回归模型中，得到物体的异中心化姿态和尺度不相关位置；本发明通过构建目标局部图像提取模块、法矢量特征预测模块和位姿回归模型，提取物体位姿单幅图像的法矢量特征求解位姿，能够提高位姿的确定精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 物体 测量方法 电子设备 | ||
【主权项】：
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