[发明专利]一种半导体激光二极管合束反射镜最优位置检测方法

摘要

本申请公开了一种半导体激光二极管合束反射镜最优位置检测方法，对光斑切割前后的光斑宽度进行仿真计算，计算光斑宽度理论变化量Ptheory；计算未切割时实际光斑宽度Woriginal；使反射镜向下运动，计算反射镜运动后实际光斑宽度Wtruncated；计算光斑宽度实际变化量Pactual；判断光斑宽度实际变化量Pactual是否大于光斑宽度理论变化量Ptheory；若Pactual大于Ptheory，则反射镜停止运动，此时反射镜处在最优位置；若Pactual不大于Ptheory，则反射镜继续向下运动，直至Pactual大于Ptheory。本申请公开的一种半导体激光二极管合束反射镜最优位置检测方法，通过在反射镜运动过程中动态监测光斑宽度，进而优化反射镜位置，使得反射镜位置的监测结果不受内部或外部的因素影响，实现反射镜高度位置的快速和精准优化。