[发明专利]一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202211021182.1 | 申请日： | 2022-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN115272290A | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 孙高磊;曹康;吴丰礼 | 申请（专利权）人： | 广东拓斯达科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/155;G06V10/764 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 杨义 |
| 地址： | 523000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：针对存在丝印边缘检测需求的丝印产品、以及与丝印产品品类相同且经检测确定丝印边缘无缺陷的参考产品，获取对丝印产品进行图像采集后生成的丝印图像、以及对参考产品进行图像采集后生成的参考图像；从丝印图像中提取出丝印边缘，并从参考图像中提取出参考边缘；针对每个丝印点，确定丝印点对应的参考点的参考斜率，与丝印点的丝印斜率之间的斜率差值，并根据斜率差值确定丝印点是否为缺陷点；根据每个丝印点是否为缺陷点，检测出丝印边缘上是否存在缺陷。本发明实施例的技术方案，可以自动检测出丝印边缘上是否存在缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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