[发明专利]蓝相液晶在电场法向的场致双折射率的测量装置及方法在审
| 申请号： | 202210796115.0 | 申请日： | 2022-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN115077874A | 公开（公告）日： | 2022-09-20 |
| 发明（设计）人： | 张宇贤;王琼华;郭玉强;储繁 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01N21/41 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 张萍 |
| 地址： | 100089*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供了蓝相液晶在电场法向的场致双折射率的测量装置及方法，涉及蓝相液晶技术领域，包括：激光器、第一偏振片、1/4波片、第二偏振片、光电探测器、电场产生装置和数据处理模块；第一偏振片、1/4波片、蓝相液晶样品器件、第二偏振片和光电探测器依次设置在激光器发出光束的光路上；电场产生装置为蓝相液晶样品器件产生预设场强的电场，且电场方向垂直于蓝相液晶器件的基板平面和1/4波片；光电探测器采集激光器发出光束的光路上的光强信息；数据处理模块对光电探测器采集的零场下的透射光谱的光强值，以及电场下的透射光谱的光强值进行处理，得到蓝相液晶在电场法向的场致双折射率。本申请能够实现蓝相液晶在电场法向的场致双折射率的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 电场 双折射 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学，未经北京航空航天大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202210796115.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
