[发明专利]蓝相液晶在电场法向的场致双折射率的测量装置及方法

权利要求书

1.一种蓝相液晶在电场法向的场致双折射率的测量装置，其特征在于，包括：激光器、第一偏振片、1/4波片、第二偏振片、光电探测器、电场产生装置和数据处理模块；第一偏振片、1/4波片、蓝相液晶样品器件、第二偏振片和光电探测器依次设置在激光器发出光束的光路上；第一偏振片和第二偏振片正交放置，1/4波片的光轴和第一偏振片的偏振化方向的夹角为45度；1/4波片的光轴和第二偏振片的偏振化方向的夹角为45度；所述蓝相液晶样品器件包括：第一基板、第二基板以及夹在两个基板间的蓝相液晶样品；所述1/4波片与蓝相液晶样品器件平行放置；

所述电场产生装置，用于为蓝相液晶样品器件产生预设场强的电场，且电场方向垂直于蓝相液晶器件的基板平面和1/4波片；

所述光电探测器，用于采集激光器发出光束的光路上的光强信息；

所述数据处理模块，用于对光电探测器采集的零场下的透射光谱的光强值，以及电场下的透射光谱的光强值进行处理，得到蓝相液晶在电场法向的场致双折射率。

2.根据权利要求1所述的蓝相液晶在电场法向的场致双折射率的测量装置，其特征在于，所述第一偏振片为起偏器；所述第二偏振片为检偏器。

3.根据权利要求1所述的蓝相液晶在电场法向的场致双折射率的测量装置，其特征在于，所述电场产生装置包括信号发生器和电压放大器；所述电压放大器的输出端分别与第一基板和第二基板连接；所述信号发生器，用于产生特定波形的电信号；所述电压放大器，用于将电信号放大至预设场强值，输出至蓝相液晶样品器件。

4.根据权利要求1所述的蓝相液晶在电场法向的场致双折射率的测量装置，其特征在于，所述数据处理模块具体用于：

获取光电探测器采集的零场下的透射光谱中最小光强值对应的波长λ₀；

获取光电探测器采集的电场下的透射光谱中最小光强值对应的波长λ；

计算蓝相液晶样品在电场法向的场致双折射率Δn：

其中，d为蓝相液晶样品在第一基板和第二基板之间的厚度。

5.一种蓝相液晶在电场法向的场致双折射率的测量方法，其特征在于，应用权利要求1-4任一项所述的蓝相液晶在电场法向的场致双折射率的测量装置，所述测量方法包括：

所述光电探测器采集蓝相液晶样品在零场下的透射光谱的光强值，发送至数据处理模块；

打开电场产生装置，使电场产生装置产生垂直于蓝相液晶样品器件基板平面的预设场强的电场；

所述光电探测器采集蓝相液晶样品在电场下的透射光谱的光强值，发送至数据处理模块；

所述数据处理模块对蓝相液晶样品在零场下的透射光谱的光强值，以及在电场下的透射光谱的光强值进行处理，得到蓝相液晶在电场法向的场致双折射率。

6.根据权利要求5所述的蓝相液晶在电场法向的场致双折射率的测量方法，其特征在于，所述方法还包括：打开激光器，调整第一偏振片、1/4波片、蓝相液晶样品器件、第二偏振片和光电探测器的位置，使第一偏振片、1/4波片、蓝相液晶样品器件、第二偏振片和光电探测器均在激光器发出光束的光路上。

7.根据权利要求5所述的蓝相液晶在电场法向的场致双折射率的测量方法，其特征在于，所述数据处理模块对蓝相液晶样品在零场下的透射光谱的光强值，以及在电场下的透射光谱的光强值进行处理，得到蓝相液晶在电场法向的场致双折射率；包括：

获取光电探测器采集的零场下的透射光谱中最小光强值对应的波长λ₀；

获取光电探测器采集的电场下的透射光谱中最小光强值对应的波长λ；

计算蓝相液晶样品在电场法向的场致双折射率Δn：

其中，d为蓝相液晶样品在第一基板和第二基板之间的厚度。