[发明专利]芯片测试方法、装置、设备及介质在审
| 申请号： | 202210785358.4 | 申请日： | 2022-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN115171767A | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 史丹丹 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10;G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 张芳;臧建明 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种芯片测试方法、装置、设备及介质，包括：提供第一测试激励，根据所述第一测试激励和公共状态表确定所述第一测试激励对应的公共状态信息和激励时间点；其中，所述公共状态表存储有所述芯片在不同激励下仿真不同时间后的各公共状态信息；根据所述激励时间点，确定所述第一测试激励的起始时间点；加载所述第一测试激励对应的公共状态信息至所述芯片；提供所述起始时间点后的所述第一测试激励对所述芯片进行仿真。本方案能够提高芯片测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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