[发明专利]一种芯片测试工程的动态优化方法及其系统有效
| 申请号： | 202210777841.8 | 申请日： | 2022-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN114839514B | 公开（公告）日： | 2022-11-18 |
| 发明（设计）人： | 凌云;邬刚 | 申请（专利权）人： | 杭州加速科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳智趣知识产权代理事务所(普通合伙) 44486 | 代理人： | 李兴生 |
| 地址： | 311100 浙江省杭州市余杭区余杭街*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种芯片测试工程的动态优化方法及其系统，方法包括：设置良率基准值；获取当前晶圆的测试数据和历史测试数据；查找与测试工程中各测试项相关的数据，得到各个测试项所对应的测试项数据；逐一对比各个测试项数据是否超出该测试项的预设测试限值计算各个测试项的良率；筛选出待优化测试项，若待优化测试项的数据满足正态分布，则构建出待正态分布图并分析优化建议，综合瑕疵率、优化建议和正态分布图得到该测试工程的测试报告。本方案在测试工程的执行过程中，综合当前测试数据和历史测试数据进行动态分析，及时发现测试项的异常，并根据优化方案及时调整，避免不良结果的进一步扩大，实现对测试工程的动态优化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 工程 动态 优化 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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