[发明专利]一种半导体发光二极管测试设备在审
| 申请号： | 202210571063.7 | 申请日： | 2022-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN115542104A | 公开（公告）日： | 2022-12-30 |
| 发明（设计）人： | 蔡峰 | 申请（专利权）人： | 蔡峰 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04;B08B1/00;B08B1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 351100 福建省莆田市城*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半导体发光二极管测试设备，其结构设有机身、转钮、插线、检测笔，转钮与机身为一体化结构且设在其中下方位置处，插线一端与机身上方活动卡合连接，检测笔与插线下端相连接且相配合，由伸缩架做压缩变动，带动板沿着实架做水平滑动，令形变板做外向位移活动，使挡口结构的中间径口能打开，由固定板受到固定架挤压而做折动，在磁板的相斥磁场作用下，产生的反作用力能将形变板反向弹撑起来，而令形变板呈水平摆置进行外向位移，当插线前端口不再插入吻合在插口中时，由弧块之间相斥磁场令伸缩架延伸变动，而驱使形变板复位变动，从而及时对插口起到挡口效果，避免外界杂尘物质经由插口进入线路板中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 发光二极管 测试 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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