[发明专利]一种半导体耗材耗用量的监控方法、装置及设备在审

专利信息
申请号: 202210562308.X 申请日: 2022-05-23
公开(公告)号: CN114860810A 公开(公告)日: 2022-08-05
发明(设计)人: 刘登峰;谢佳玲;石文颖 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: G06F16/2458 分类号: G06F16/2458;G06F17/18;G06Q50/04
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 苑琳琳
地址: 230000 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 本申请提供一种半导体耗材耗用量的监控方法、装置及设备,其方法包括:获取与目标半导体耗材的耗用相关的耗材数据;根据获取的耗材数据及采集方式,及预先建立的与不同耗材数据和采集方式对应的耗材分析模型,确定获取的耗材数据对应的耗材分析模型;利用确定的耗材分析模型基于获取的耗材数据进行对应的计算,得到所述目标半导体耗材的实际耗用量,利用本申请提供的监控方法,可以自动并且准确的确定出不同类型的半导体耗材的实际耗用量。
搜索关键词: 一种 半导体 耗材 用量 监控 方法 装置 设备
【主权项】:
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