[发明专利]PIN针的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210492875.2 | 申请日： | 2022-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN115035031A | 公开（公告）日： | 2022-09-09 |
| 发明（设计）人： | 周赏;史为平;刘羽;周璐;李铭 | 申请（专利权）人： | 浙江华睿科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 杜晶 |
| 地址： | 310053 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请公开一种PIN针的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，属于缺陷检测技术领域，该方法包括：获取N个线激光相机采集的待检测电路板的点云数据，基于各线激光相机采集的点云数据，生成待检测电路板上PIN针的第一深度图，基于第一深度图和参考电路板上PIN针的第二深度图，判断待检测电路板上的PIN针是否缺失，进而输出至少包括待检测电路板上缺失PIN针的位置指示信息的缺陷检测结果，其中，N是基于待检测电路板的尺寸和单个线激光相机的采集范围确定的，参考电路板上的PIN针不存在缺陷，从而提供了一种借助于线激光相机对PIN针进行缺陷检测的方案。 | ||
| 搜索关键词： | pin 缺陷 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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