[发明专利]存储器测试方法及装置、介质及设备在审
| 申请号： | 202210430915.0 | 申请日： | 2022-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN114783504A | 公开（公告）日： | 2022-07-22 |
| 发明（设计）人： | 张卫 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/50 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 王辉 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开是关于一种存储器测试方法、存储器测试装置、计算机可读存储介质及电子设备，涉及集成电路技术领域。该存储器测试方法包括：执行第一数据读写操作，只在一次读取所述第一数据时获取第一测量值；执行第二数据读写操作，只在一次读取所述第二数据时获取第二测量值；根据所述第一测量值和所述第二测量值确定目标测量值，所述目标测量值包括相对时延的最大值及维持时间的最小值。本公开可以减小测试过程中的信号抖动。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 装置 介质 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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