[发明专利]存储器测试方法及装置、介质及设备

权利要求书

1.一种存储器测试方法，其特征在于，所述方法包括：

执行第一数据读写操作，只在一次读取所述第一数据时获取第一测量值；

执行第二数据读写操作，只在一次读取所述第二数据时获取第二测量值；

根据所述第一测量值和所述第二测量值确定目标测量值，所述目标测量值包括相对时延的最大值及维持时间的最小值。

2.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述第一数据读写操作包括：在存储阵列的各存储单元中写入所述第一数据，反复多次读取所述第一数据。

3.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述第二数据读写操作包括：在存储阵列的各存储单元中写入所述第二数据，反复多次读取所述第二数据。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的存储器测试方法，其特征在于，所述相对时延包括：tDQSQ，所述维持时间包括：tQSH和tQSL。

5.根据权利要求4所述的存储器测试方法，其特征在于，所述第一数据的第一数据突发长度数据与第二数据突发长度数据相反。

6.根据权利要求4所述的存储器测试方法，其特征在于，所述第二数据的第一数据突发长度数据与第二数据突发长度数据相反。

7.根据权利要求4所述的存储器测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

多次执行所述第一数据读写操作，从多个所述第一测量值中，确定出所述tQSH最小值、tQSL最小值和tDQSQ最大值；其中，所述第一测量值包括：tQSH值、tQSL值和tDQSQ值。

8.根据权利要求4所述的存储器测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

多次执行所述第二数据读写操作，从多个所述第二测量值中，确定出所述tQSH最小值、tQSL最小值和tDQSQ最大值；其中，所述第二测量值包括：tQSH值、tQSL值和tDQSQ值。

9.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

读取所述第一数据时，先读取所述第一数据的偶数位数据，再读取所述第一数据的奇数位数据。

10.根据权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

读取所述第二数据时，先读取所述第二数据的奇数位数据，再读取所述第二数据的偶数位数据。

11.根据权利要求4所述的存储器测试方法，其特征在于，确定tQSH值，包括：

测量DQS波形的上升沿到下一个下降沿的脉宽。

12.根据权利要求4所述的存储器测试方法，其特征在于，确定tQSL值，包括：

测量DQS波形的下降沿到下一个上升沿的脉宽。

13.根据权利要求4所述的存储器测试方法，其特征在于，确定tDQSQ值，包括：

测量DQS波形的上升沿到DQ波形的上升沿的脉宽。

14.一种存储器测试装置，其特征在于，所述装置包括：

第一测量值确定模块，用于执行第一数据读写操作，只在一次读取所述第一数据时获取第一测量值；

第二测量值确定模块，用于执行第二数据读写操作，只在一次读取所述第二数据时获取第二测量值；

目标测量值确定模块，用于根据所述第一测量值和所述第二测量值确定目标测量值，所述目标测量值包括相对时延的最大值及维持时间的最小值。

15.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-13中任意一项所述的存储器测试方法。

16.一种电子设备，其特征在于，包括：

处理器；以及

存储器，用于存储所述处理器的可执行指令；

其中，所述处理器配置为经由执行所述可执行指令来执行权利要求1-13中任意一项所述的存储器测试方法。