[发明专利]芯片I/O接口性能测试方法、装置及电子设备在审
| 申请号： | 202210403905.8 | 申请日： | 2022-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN114741246A | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 文继伟 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/26;G06F11/273 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 沈璐蓓;刘芳 |
| 地址： | 230011 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开提供一种芯片I/O接口性能测试方法、装置及电子设备。该芯片I/O接口性能测试方法包括：将第一初始信号输入至芯片I/O接口，并获取第一输出信号，第一初始信号至少包括待测信号；调整待测信号的输入电压，以形成第二初始信号；将第二初始信号输入至芯片I/O接口，并获取第二输出信号；当第二输出信号与第一输出信号相同时，调整待测信号的输入电压，直到第N次调整待测信号的输入电压后获取的第二输出信号与第一输出信号不同时，输出第N次调整后的待测信号的输入电压为芯片I/O接口能够读出的最大的下限电压，或，能够读出的最小的上限电压。本公开至少可以增加测试芯片I/O接口性能的全面性、提高芯片I/O接口的测试效果。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 接口 性能 测试 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
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