[发明专利]一种粗糙度的测量方法、测量装置及相关设备在审
申请号: | 202210327276.5 | 申请日: | 2022-03-30 |
公开(公告)号: | CN116934651A | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 徐宏;何向明;胡子昱 | 申请(专利权)人: | 清华大学;北京华睿新能动力科技发展有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/13;G06T7/70;G06T5/00;G01B11/30 |
代理公司: | 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327 | 代理人: | 王立娜;丁学爽 |
地址: | 10008*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本申请实施例提供了一种粗糙度的测量方法、测量装置及相关设备,其中方法包括:获取光刻图案的图像;基于所述光刻图案的图像,确定光刻图案的边缘位置数据;将所述边缘位置数据转换为实际位置数据,所述实际位置数据与所述光刻图案的实际尺寸相对应;根据所述实际位置数据,计算得到所述光刻图案的粗糙度。本申请实施例能够提高粗糙度的测量准确度。 | ||
搜索关键词: | 一种 粗糙 测量方法 测量 装置 相关 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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