[发明专利]热成像不均匀温度背景获取方法及缺陷检测方法在审
申请号: | 202210319721.3 | 申请日: | 2022-03-29 |
公开(公告)号: | CN114841921A | 公开(公告)日: | 2022-08-02 |
发明(设计)人: | 张育中;张克尊;舒双宝;李兆铭;郎贤礼;杨蕾 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06F17/10;G01J5/48;G01J5/90 |
代理公司: | 合肥和瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 34118 | 代理人: | 金宇平 |
地址: | 230009 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 一种热成像不均匀温度背景获取方法及缺陷检测方法,所述热成像不均匀温度背景获取方法,对热成像图像的每一行像素点进行解析,获取每一行像素点的不均匀温度背景;然后结合所有行像素点的不均匀温度背景构成整个热成像图像的不均匀温度背景。本发明中,首先根据经验规则选取非缺陷像素点,然后通过非缺陷像素点构建热成像图像的不均匀温度背景,实现了对热成像图像的不均匀温度背景的精确计算,为不均匀温度背景的剔除奠定了基础。 | ||
搜索关键词: | 成像 不均匀 温度 背景 获取 方法 缺陷 检测 | ||
【主权项】:
暂无信息
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